TEM-esittely

Transmissioelektronimikroskooppi (TEM) on elektronimikroskopiaan perustuva mikrofyysinen rakenneanalyysitekniikka, joka perustuu elektronisuihkuun valonlähteenä ja jonka enimmäisresoluutio on noin 0,1 nm.TEM-teknologian ilmaantuminen on parantanut huomattavasti mikroskooppisten rakenteiden paljain silmin havaitsemisen rajoja, ja se on korvaamaton mikroskooppinen havainnointilaite puolijohdealalla, ja se on myös välttämätön laitteisto prosessitutkimukseen ja -kehitykseen, massatuotantoprosessien seurantaan ja prosessien poikkeavuusanalyysi puolijohdekentässä.

TEM:llä on erittäin laaja valikoima sovelluksia puolijohdealalla, kuten kiekkojen valmistusprosessianalyysi, siruvirheanalyysi, sirun käänteisanalyysi, pinnoitus- ja etsauspuolijohdeprosessianalyysi jne., asiakaskunta on kaikkialla tehtaissa, pakkaustehtaissa, sirusuunnitteluyritykset, puolijohdelaitteiden tutkimus ja kehitys, materiaalien tutkimus ja kehitys, yliopistojen tutkimuslaitokset ja niin edelleen.

GRGTEST TEM Teknisen tiimin valmiuksien esittely
TEM:n teknistä tiimiä johtaa tohtori Chen Zhen, ja tiimin teknisellä selkärangalla on yli 5 vuoden kokemus asiaan liittyviltä aloilta.Heillä ei ole vain runsaasti kokemusta TEM-tulosten analysoinnista, vaan myös rikas kokemus FIB-näytteiden valmistelusta, ja heillä on kyky analysoida 7 nm:n ja sitä korkeampia kehittyneitä prosessikiekkoja ja eri puolijohdelaitteiden avainrakenteita.Tällä hetkellä asiakkaitamme ovat kaikkialla kotimaisissa ensimmäisen linjan tehtaissa, pakkaustehtaissa, sirusuunnitteluyhtiöissä, yliopistoissa ja tieteellisissä tutkimuslaitoksissa jne., ja asiakkaat ovat laajasti tunnustaneet.