Kesäkuussa 2017 perustettu ECPE-työryhmä AQG 324 työskentelee moottoriajoneuvojen tehoelektroniikkamuunninyksiköissä käytettävien tehomoduulien eurooppalaisen kelpoisuusohjeen parissa.
Entiseen saksalaiseen LV 324:ään ("Moottoriajoneuvojen komponenteissa käytettävien tehoelektroniikan moduulien pätevyys - Yleiset vaatimukset, testausolosuhteet ja testit") perustuva ECPE-ohje määrittelee yhteisen menettelyn moduulien testaamiseen sekä autoteollisuuden tehoelektroniikkamoduulien ympäristö- ja käyttöiän testaukseen.
Ohjeen on julkaissut vastuullinen teollisuustyöryhmä, joka koostuu ECPE:n jäsenyrityksistä, joissa on yli 30 alan edustajaa autoteollisuuden toimitusketjusta.
Nykyinen AQG 324 -versio, joka on päivätty 12.4.2018, keskittyy Si-pohjaisiin tehomoduuleihin, joista työryhmän julkaisemat tulevat versiot kattavat myös uudet laajakaistaiset tehopuolijohteet SiC ja GaN.
Tulkimalla AQG324:ää ja siihen liittyviä asiantuntijatiimin standardeja syvästi, GRGT on luonut tehomoduulien tarkistuksen tekniset valmiudet ja tarjoaa arvovaltaisia AQG324-tarkastus- ja -tarkastusraportteja tehopuolijohdeteollisuuden alku- ja loppupään yrityksille.
Teholaitemoduulit ja vastaavat erillisiin laitteisiin perustuvat erikoissuunnittelutuotteet
● DINENISO/IEC17025: Testaus- ja kalibrointilaboratorioiden pätevyyden yleiset vaatimukset
● IEC 60747: Puolijohdelaitteet, erilliset laitteet
● IEC 60749: Puolijohdelaitteet ‒ Mekaaniset ja ilmastolliset testausmenetelmät
● DIN EN 60664: Pienjännitejärjestelmien laitteiden eristyksen koordinointi
● DINEN60069: Ympäristötestaus
● JESD22-A119:2009: Säilytysaika alhaisessa lämpötilassa
Testityyppi | Testikohteet |
Moduulien tunnistus | Staattiset parametrit, dynaamiset parametrit, yhteyskerroksen tunnistus (SAM), IPI/VI, OMA |
Moduulin ominaisuustesti | Loishajainduktanssi, lämpövastus, oikosulkukestävyys, eristystesti, mekaanisten parametrien tunnistus |
Ympäristötesti | Lämpöisku, mekaaninen tärinä, mekaaninen isku |
Elämän testi | Tehonkierto (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, dynaaminen portin esijännite, dynaaminen käänteinen esijännite, dynaaminen H3TRB, runkodiodin bipolaarinen hajoaminen |